Ponencias y Publicaciones presentadas en Congresos

  1. Abdiel Pino, Josep Pladellorens, “An experimental study for characterizing surface roughness by speckle pattern analysis”, FIO- 2015, Oral Presentation, FiO 1: Optical Design and Instrumentation, FM1G4, Frontiers in Optics/Laser Science 2015, October 18 - 22, 2015, San Jose, California, USA.
  2. A. Pino; J. Pladellorens, “Parametros característicos de acabado superficial medidos a partir de los patrones de speckle de superficies rugosas”. Procedings Congreso Nacional de Ciencias y Tecnología, APANAC 2014, Panamá del 15-18 de octubre 2014.
  3. Abdiel Pino, Josep Pladellorens, “Evaluation of the paper surface roughness on real time using image processing of the speckle pattern”, Conferencia ICO-23: Enlightening the future, Santiago de Compostela, España, Agosto 2014.
  4. Abdiel Pino, Josep Pladellorens, “Optical inspection methods as a support to improve production efficiency of the manufacturing industry in Panama” Conferencia ICO-23: Enlightening the future, (Santiago de Compostela, España, Agosto 2014).
  5. Pino, A., Pladellorens, J. “Measure the roughness of the specials paper using laser speckle contrast”, Encuentro Nacional de Óptica and IV Conferencia Andina y del Caribe de Óptica y sus Aplicaciones, Medellin, Colombia. Organizado por la Red Colombiana de Óptica, Noviembre 2013.
  6. Pino, A., Pladellorens, J. “Optical inspection methods and their applications in the manufactured industrial sector: Knowledge transfer to Panamanian industry”. ETOP 2013, 12th Education and Training in Optics and Photonics Conference, (Porto, July 2013).
  7. Pino, A., Pladellorens, J. “Measurement of the roughness surface of the specials papers using the normalized autocorrelation function of the fields of the texture of speckle pattern”. RIAO/OPTILAS 2013/ VIII Iberoamerican Conference on Optics / XI Latinamerican meeting on Optics, Lasers and Applications, (Porto, July 2013).
  8.  A. Pino; J. Pladellorens, “ Method of measure of the roughness of the paper based on the analysis normalized autocorrelation function of a speckle pattern on the surface”, Proceedings Congreso Nacional de Ciencias y Tecnología, APANAC 2012, Panamá del 18-20 de octubre 2012.
  9. A. Pino; J. Pladellorens, Método para determinar la rugosidad del papel, basado en el análisis de los descriptores de textura de la matriz de co-ocurrencia de niveles de gris (GLCM) del patrón de speckle. Procedings Congreso Nacional de Ciencias y Tecnología, APANAC 2012, Panamá del 18-20 de octubre 2012.
  10. N. Miller, A. Diallo, A. Pino, G. Pérez; verificación del impacto de la enseñanza de física sobre conceptos previos de dinámica en estudiantes de la UTP, Procedings Congreso Nacional de Ciencias y Tecnología, APANAC 2012, Panamá del 18-20 de octubre 2012.
  11. A. Pino, J. Pladellorens, “Measurement of the roughness surface using the normalized autocorrelation function of the fields of the texture of speckle pattern, Speckle 2012: V International Conference on Speckle Metrology, (September 11, 2012).
  12. A. Pino, J. Pladellorens "Method of measure of roughness of paper based in the analysis of the texture of speckle pattern" Proccedings Speckle 2010.
  13. Pino, A., Antó, J., Pladellorens, J., "Determinación de propiedades superficiales del papel utilizando el análisis de la textura del patrón de speckle." Actas, IX Reunión Nacional de Óptica, Ourense, Vigo, España del 14-17 de septiembre 2009.
  14. Pino, A., Pladellorens, J., Antó, J., "Measure of roughness of paper using speckle." Optical Inspection and Metrology for Non- Optics Industries. SPIE. Optics and Photonics 2009, San Diego, California, USA.